芯片表面测量

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芯片表面长度、宽度和面积的测量方案

客户需求

需求描述：测量芯片上矩形的长度和宽度，以及面积。

产品实物图

001

002

测量结果

DA 测试结果

。

测试结果

元素名称	随机对照试验 1	随机对照试验 1	随机对照试验 1	RCT 2	RCT 2	RCT 2
特征名称	长度	宽度	区域	长度	宽度	区域
标准值	0.1	0.1	0.01	0.1	0.1	0.01
1	0.094	0.0939	0.0088	0.0941	0.0941	0.0089
2	0.094	0.0939	0.0088	0.0941	0.0941	0.0088
3	0.094	0.094	0.0088	0.0941	0.0941	0.0089
4	0.094	0.094	0.0088	0.0941	0.094	0.0088
5	0.094	0.094	0.0088	0.0941	0.0941	0.0089

元素名称	RCT 3	RCT 3	RCT 3	RCT 4	RCT 4	RCT 4	RCT 5	RCT 5	RCT 5
特征名称	长度	宽度	区域	长度	宽度	区域	长度	宽度	区域
标准值	0.1	0.1	0.01	0.1	0.1	0.01	0.1	0.1	0.01
1	0.0945	0.0944	0.0089	0.0946	0.0945	0.0089	0.0949	0.0948	0.009
2	0.0945	0.0944	0.0089	0.0946	0.0945	0.0089	0.0949	0.0948	0.009
3	0.0944	0.0944	0.0089	0.0946	0.0945	0.0089	0.0949	0.0948	0.009
4	0.0945	0.0944	0.0089	0.0946	0.0945	0.0089	0.0949	0.0948	0.009
5	0.0945	0.0944	0.0089	0.0946	0.0945	0.0089	0.0949	0.0948	0.009

测试结论

COBEKK 推荐 AG系列 成像系统配备了 06-5X 自动变焦同轴光学镜头、OLYMPUS 5X/0.15 BD 物镜和 i-Sobit 软件。

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