点光谱系统是单点非接触式 3D 测量模块，集成在 COBEKK 视觉测量设备上。普通光学相机只能获取二维图像，透明 / 半透明工件、高反光件容易产生成像虚影，无法做高精度微米级高度测量。
点光谱依靠光谱干涉原理，单点采集纳米级高度数据，不受反光、透明材质干扰，弥补普通光学视觉在高反光、透明件微小高度测量的缺陷。
适用产品 & 场景：半导体芯片、玻璃、薄膜、晶圆、PCB 线路微小凸起 / 凹陷，检测微米级台阶、膜厚、微小颗粒高度。
