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INDUSTRY SOLUTIONS

行业解决方案

半导体
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引线框架缺陷检测方案
客户需求
1. 进行轮廓比对——找出产品与标准图纸之间的差异。2. 测量缺失孔的数量。3. 以合格样品为标准——将其与不合格样品进行比较。
产品实物图
引线框架缺陷检测方案
测量结果
测试结果

以客户提供的合格产品为模板，对不合格产品进行相应比较。

Ⅰ. 有 缺陷产品缺少孔洞的 8 个位置。

kj1.pngkj2.png

Ⅱ NG的部分图像

kj3.png

测试结论
COBEKK 建议采用轮廓对比法来控制产品缺陷。