半导体检测解决方案

核心检测场景

✓ 大尺寸晶圆检测

 ✓ 表面缺陷检测

 ✓ 封装尺寸测量

 ✓ 超高精度检测要求


晶圆、芯片及封装检测方案

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全维度设备定制开发能力

多角度防眩光光源

索必克可提供晶圆、芯片、封装全流程半导体定制检测方案。设备集成高端光学、精密运动控制与一体化软件,满足半导体严苛生产检测需求。

半导体专项定制检测方案

光学组件兼容适配

为何选择与索必克合作

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